10일 SK하이닉스는 차선용 미래기술연구원장(CTO, 사진)이 일본 쿄토에서 열리고 있는 IEEE VLSI 심포지엄 2025에서 '지속가능한 미래를 위한 D램 기술의 혁신 주도'를 주제로 발표를 진행했다고 밝혔다.
4F² VG 플랫폼은 셀 면적(Cell area)을 최소화하고 수직 게이트(Gate) 구조를 통해 고집적, 고속, 저전력 D램 구현을 가능하게 하는 차세대 메모리 기술이다.
D램은 셀 단위로 데이터를 저장하는데, 이 셀 하나가 차지하는 면적이 F²다. VG는 D램에서 스위치 열할을 하는 게이트를 수직으로 세우고 그 주위를 채널이 감싸는 구조다. 기존에는 게이트가 채널 위 수평으로 높혀진 평면 구조를 하고 있다.
현재 6F² 셀이 일반적인데, 2F² x 2F² 면적을 차지하는 고집적 기술인 4F² 셀과 함께 회로부를 셀 영역 아래로 배치하는 웨이퍼 본딩 기술을 적용하면 셀 효율은 물론 전기적 특성까지 개선되는 효과를 기대할 수 있다는 것이다.
3D D램은 제조 비용이 적층 수에 비례해 증가할 것이라는 관측이 나오지만, SK하이닉스는 기술 혁신을 통해 이를 극복하고 경쟁력을 확보하겠다는 방침이다..
차 CTO는 “2010년 전후만 하더라도 D램 기술은 20나노가 한계라는 전망이 많았으나 지속적인 기술 혁신을 통해 현재에 이르게 됐다"며 “앞으로 D램 기술 개발에 참여할 젊은 엔지니어들의 이정표가 될 중장기 기술 혁신 비전을 제시하고, 업계와 함께 협력해 D램의 미래를 현실로 만들어 가겠다”고 밝혔다.
곽호룡 한국금융신문 기자 horr@fntimes.com
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